六西格玛对零件尺寸公差设计中的优化

一、产品尺寸公差的优化设计

设计公差有两种:一阶和方法和平方和方法。它们在计算上的区别是:

(1)一阶和只加各尺寸公差的数字部分；

(2)平方和是每个尺寸公差的数字部分的平方和，取其平方根的1.5倍。

一次方求和是比平方求和法更严格的验证方法。如果一阶求和的结果是OK，那么只要使用具有OK绘图公差的零件进行装配，就不会出现问题。为了使一阶和法的结果可以，视情况而定，有时会增加零件成本或放大产品，导致商品减少，达不到客户的满意。因此，考虑到公差和工程能力之间的平衡，我们必须确保经济的设计质量。统计概率论实际可能造成的最坏规模的计算方法是:

用这种方法设计出来的次品概率是0.00068%，即7ppm，每百万个产品中有7个不合格。

如图2和图3所示，在汽车音响内部单元的设计中，机芯用支架固定，然后一起固定在内部单元中。通常，定位孔用于将它们固定在一起。在定位孔的设计中，采用平方求和法，利用以下公差计算工具设计定位孔的尺寸。

第二，通过cpk控制零件尺寸

定位孔的设计尺寸可以用工程能力(cpk)来管理，即在该批零件中测量一定数量的定位孔直径，计算cpk。监控该子部件的cpk是否满足设计初始阶段的期望值。当cpk不满意时，及时分析原因，解决问题。

①工程能力指数:Cp

②考虑中心值偏差的工程能力指数:Cpk对工程能力指数的管理标准，新产品Cpk≥1.67，成熟产品Cpk≥1.33。

综上所述，利用六西格玛的思想，结合西格玛和次品率进行产品的尺寸公差设计。然后，为零件供应商管理零件尺寸的工程能力指数(cpk)。当某一批次的Cpk不合格时，我们可以及时发现，及时分析原因，解决问题点，在生产加工前拦截潜在的不良品。大大降低了因缺陷产品返修带来的成本增加，为企业赢得了效益。