缺陷打分控制图与接近零缺陷的控制图

一、缺陷评分控制图

不同类型缺陷的综合控制应与严重度评分法相结合。我们不应该简单地统计过程或产品中的缺陷数量，而应该计算缺陷的严重程度得分，并将统计的缺陷转换为测量的得分。

示例:

过去一个铸件的重要缺陷是含有砂眼，产品质量只能达到3σ级别。长期以来，质量控制是以缺陷率控制图为基础的。现在质量改进后，产品质量有了很大提高，达到了5σ的水平，铸件砂眼比例已经低于0.1%。因此，决定使用缺陷评分控制图对各种产品缺陷进行综合控制。

使用单值-范围控制图，每天选取100个铸件为一组，计算该组铸件的总缺陷分数作为样本值。为了绘制控制图，连续提取了25天。

从上面的控制图可以看出，每组铸件的平均缺陷分数为12.4分，单值图UCL=25.92，平均极差图UCL=16.61，平均极差图UCL = 5.083。两个画面都在掌控之中。

在本例中，缺陷数控图通过缺陷评分法成功转化为测量控制图。如果能进一步给出分值的标准界限，就可以计算出过程能力指数，对过程能力进行综合评价。

二.接近零缺陷的控制图

零缺陷是人类生产力目前无法真正达到的理想质量状态。当缺陷率极低时，与大量无缺陷的产品相比，生产过程中只是偶尔存在少数缺陷，便称为是“接近零缺陷过程”。6σ质量管理的思想是实现方法零缺陷过程。

使用缺陷数(包括不合格品数NP)的常规控制图时，要求每个样本的平均缺陷数NP≥1。在逼近零缺陷的过程中，如果NP较大，要求大量样本是不现实的。实际上，当NP=1时，常规缺陷数控制图的应用效果是比较差的，因为常规缺陷控制图是基于正态近似的，当NP=1时(即使n很大)效果很差。为此，当NP=1时，传统的计数控制图需要改进。一种方法是对原始离散数据进行数学变换，使变换后的数据满足正常要求。另一种方法是保持原始数据不变，调整控制限的设置方法。这里介绍的接近零缺陷控制图就是NP=1时，用后一种方法做控制所绘制的控制图。