缺陷数控制图

不合格品数控图描述了不合格品的数量，但有时我们关心的是产品中的缺陷数量。如前面提到的问卷的例子，一份问卷有30个缺陷机会，缺陷的数量更能反映问卷填写的质量。另外，有些产品不是按件划分的。比如一块布有一个瑕疵不代表整块布不合格。实际的做法是根据缺陷的多少分为不同的等级。这里我们介绍一下这个缺陷数控制图。

缺陷数控制图(也称C图)是一种计数型数据控制图，其目的是通过对缺陷数量的监控来控制产品上的缺陷或瑕疵数量，控制产品的质量。c控制图单独使用，不需要与其他图表结合使用。C控制图的特点是各组样本量相等，由于各组样本量相等，便于计算。

Minitab软件可以生成C图，可以形成应用菜单。基本步骤如下:

选择Stat > Cuntrol Charts > C，进入C图画面。此时，在变量对话框中填入要分析的变量；选择变量后，点击右上角的测试键，进入测试界面。这里是对控制图中的每个点进行区分检查的地方。我们选Perform all four tests选项，点击OK键，退出Tests界面，再点击OK键，完成C图。

其中，CL为C图的中心线，UCL和LCL分别为C图的上下控制限。

产品上缺陷数常服从泊松分布(Poisson distribution)，由泊松分布的性质可以得出产品缺陷数的均值等于μ，标准差等于。其中，当样本足够大时可以用样本值近似代替，得μ≈c，。

在实际应用中，人们一般只关注不合格品数量的控制上限和中心线。当缺陷数量超过控制上限时，应采取措施稳定产品质量。

示例:

某型号显像管分30组检查，每组3根显像管，缺陷数量如下表所示:

从图中可以看出，C=6.767，即每3个显像管有6.767个缺陷。控制上限为14.57，第21组每3个产品的缺陷数超过控制上限16次。总的来说，平均每个显像管有2.256个缺陷，缺陷数量比较多。因此，应提高工艺水平，提高产品的平均档次。